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    X射線熒光鍍層厚度測量儀

    發布時間:2019-04-10 17:19:08  瀏覽次數:

    產品說明

    品名:X射線熒光鍍層厚度測量儀
    型號:SFT-110 
    概要:1.即放即測!2.10秒鐘完成50nm的極薄金鍍層測量!3.可無標樣測量!4.通過樣品整體圖像更方便選擇測量位置! 
    特長 
    SFT-110的主要特征] 
    1. 通過自動定位功能提高操作性 測量樣品時,以往需花費約10秒的樣品對焦,現在3秒內即可完成,大大提高樣品定位的操作性。 
    2. 微區膜厚測量精度提高 通過縮小與樣品間的距離等,致使在微小準直器(0.1、0.2mm)下,也能夠大幅度提高膜厚測量的精度。 
    3. 多達5層的多鍍層測量 使用薄膜FP法軟件,即使沒有厚度標準片也可進行多達5層10元素的多鍍層測量。 
    4. 廣域觀察系統(選配)可從最大250×200mm的樣品整體圖像指定測量位置。 
    5. 對應大型印刷線路板(選配) 可對600×600mm的大型印刷線路板進行測量。 
    6. 低價位 與以往機型相比,既提高了功能性又降低20%以上的價格。

    圖片21.png

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