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    日立X射線熒光膜厚測量儀(FT)
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    X射線熒光鍍層厚度測量儀FT9200

    發布時間:2019-04-10 16:27:50  瀏覽次數:

    產品說明

    品名:X射線熒光鍍層厚度測量儀FT9200
    型號:FT9200系列
    概要:是利用熒光X射線原理的鍍膜厚度測量計。SFT系列是本公司標準機型。有適用小型部件的SFT9200、有適用大型印刷基板的SFT9255。防止樣品和儀器裝備結構不吻合的功能是本系列的標準裝備。
    特長
    FT3000系列的后續機型。
    1.依據照明,可以看到以前觀察困難的樣品。
    2.搭載了防止有凹凸的樣品碰撞的傳感器。
    3.運用激光聚焦功能簡單實現位置的調整。
    4.微小領域的觀察也很容易。搭載了能4階段切換的可變焦距透鏡。(任選)
    5.搭載了焦點切換功能,能夠對有高度的樣品的低部分進行測定。(任選)
    規格
    型號FT9200系列
    射線源空冷式小型X射線管
    準直器型0.2x0.05mm、0.05x0.2mm
    0.1mm,0.2mm、0.3mmφ
    樣品觀察CCD照相機
    過濾器Co:自動切換
    樣品平臺移動量:220(X)x150(Y)x150(Z)mm
    X-rayStation電腦(Windows2000?)17英寸CRT

     


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